ベリフィケーションテクノロジーは大規模集積回路ＬＳＩの”検証”に特化したユ ニークな技術企業です。400件 ものLSI開発において蓄積された技術・ノウハウを活かし世界初のLSI内蔵型検証IP ”VARON” を開発しました。
性能・機能検証を、圧倒的な速度と精度で実現可能にする新検証メソドロジー、それが”VARON” です。
従来手法では困難なデバイス内部の可視化が容易になり、リアルタイムでの把握、解析ができるほか、チップトップレベルの性能検証を劇的に効率化し、長時間の常時観測も可能となるＶＩＰです。
”VARON” で、さらなる「高品質」を搭載していただきたいと考えております。
■世界初のデバイス内蔵型検証IP「VARON Ver2.0」
新検証メソドロジ－として、チップ内部に検証用回路を埋め込み、従来の検証手法以上に高速かつ高精度な機能・性能検証が可能な検証IPです。
ご来場されますお客様がいらっしゃいましたら、是非弊社ブースまでお立ち寄り下さい。
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